隨著產(chǎn)品品質(zhì)的普遍提高，生產(chǎn)廠商為了提高質(zhì)量控制水平，紛紛引入先進(jìn)的測(cè)量設(shè)備。其中不少制造商還選擇了三坐標(biāo)進(jìn)行測(cè)量。三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x能夠發(fā)揮精確測(cè)量的作用，依靠的是儀器主體和測(cè)量配件上相互協(xié)作才能完成。所以說(shuō)，三坐標(biāo)每一個(gè)部件都重要，其中測(cè)頭是重中之重，選擇好測(cè)頭還能很好地完成測(cè)量任務(wù)。

在測(cè)頭選擇里，觸發(fā)式測(cè)頭和掃描式測(cè)頭是比較常見的選擇。但他們之間沒有絕對(duì)優(yōu)劣之分，而是在不同場(chǎng)景下發(fā)揮出各自的使用價(jià)值，讓使用者能夠完成測(cè)量任務(wù)。 

在進(jìn)行實(shí)際的測(cè)量工作，我們會(huì)發(fā)現(xiàn)，那需要擬合一個(gè)理論圖形時(shí)，理論上時(shí)采集的點(diǎn)數(shù)越多，精度就會(huì)越高。所以在時(shí)間允許的情況下會(huì)通過(guò)多取點(diǎn)的方式讓結(jié)果更為精確。但假如碰到需要測(cè)多個(gè)點(diǎn)，觸發(fā)式測(cè)頭的效率就無(wú)法滿足需求了，這時(shí)候使用掃描式測(cè)頭會(huì)更加合適且便利一些。除此之外，掃描式測(cè)頭還具備不少功能，比如搜索功能，能夠在測(cè)頭模擬信號(hào)達(dá)到一個(gè)穩(wěn)定狀態(tài)下才踩點(diǎn)，能夠適用于比如尋找槽的底部小孔的中心點(diǎn)等等，而觸發(fā)式測(cè)頭并不具備此類功能。

從工作原理上看，掃描測(cè)頭在進(jìn)行單點(diǎn)觸發(fā)采點(diǎn)時(shí)，觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)是在測(cè)頭觸發(fā)開始時(shí)發(fā)生的；而掃描測(cè)頭則是采用模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換的方式，其單個(gè)采點(diǎn)是在測(cè)頭觸發(fā)結(jié)束、測(cè)針離開物體表面時(shí)發(fā)生的，他們都有各自的適用場(chǎng)景。并不能說(shuō)明掃描式測(cè)頭要優(yōu)于觸發(fā)測(cè)頭。在采點(diǎn)速度上，觸發(fā)測(cè)頭采點(diǎn)速度要優(yōu)于掃描測(cè)頭。

采點(diǎn)速度上，觸發(fā)測(cè)頭擁有更高的速度，而掃描側(cè)頭則有更多的功能，我們需要結(jié)合自身使用場(chǎng)景進(jìn)行選擇。